1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測(cè)器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機(jī)、光接收機(jī)和光中繼器的關(guān)鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無(wú)源器件：光無(wú)源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開(kāi)關(guān)、光濾波器、光衰減器等。

GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 4937.23 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法  第23部分：高溫工作壽命
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

通過(guò)試驗(yàn)可以發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，及時(shí)改進(jìn)和提高電子器件的質(zhì)量工作實(shí)踐表明，電子器件在高溫1000h穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)中，能夠發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，及時(shí)采取改進(jìn)措施，從而達(dá)到提高產(chǎn)品質(zhì)量的目的。器件與環(huán)境溫度之間的溫差對(duì)器件的壽命一定的影響，阿倫尼烏斯方程表示“溫度每升高10攝氏度，器件的壽命會(huì)縮短一半”。
通信用光電子器件高溫壽命試驗(yàn)可確定光電子器件高溫加速老化失效機(jī)理和工作壽命。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的高溫壽命試驗(yàn)服務(wù)。

按以下程序進(jìn)行試驗(yàn)：
a）試驗(yàn)前應(yīng)對(duì)試樣的主要光電特性進(jìn)行測(cè)試；
b）將試樣放進(jìn)高溫試驗(yàn)箱內(nèi)，并使試樣處于工作狀態(tài)；
c）按照試驗(yàn)條件開(kāi)始試驗(yàn)，記錄起始時(shí)間、試驗(yàn)溫度和試樣數(shù)量；
d）使用監(jiān)視儀器，從試驗(yàn)開(kāi)始到結(jié)束監(jiān)視試驗(yàn)溫度和工作偏置，以保證全部試樣按條件施加應(yīng)；
e）在中間測(cè)試時(shí)將樣品從高溫試驗(yàn)箱取出，測(cè)試完成后放回高溫試驗(yàn)箱繼續(xù)進(jìn)行試驗(yàn)。