GB/T 10263-2006 核輻射探測器環(huán)境條件與試驗(yàn)方法
GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試程 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M：低氣壓
GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（混合模式）綜合
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合

氣壓試驗(yàn)分為高氣壓試驗(yàn)和低氣壓試驗(yàn)，用來確定探測器在低氣壓或高氣壓下使用的適應(yīng)性。核輻射探測器過高或過低氣壓環(huán)境中，產(chǎn)品的性能容易出現(xiàn)下降或運(yùn)行不穩(wěn)定等現(xiàn)象。
健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種核輻射探測器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸楹溯椛涮綔y器產(chǎn)品提供專業(yè)的低氣壓試驗(yàn)、高氣壓試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種核輻射探測器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸楹溯椛涮綔y器產(chǎn)品提供專業(yè)的低氣壓試驗(yàn)、高氣壓試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

低氣壓試驗(yàn)：
試驗(yàn)時(shí)，試驗(yàn)樣品處于非工作狀態(tài)。將經(jīng)過預(yù)處理的試驗(yàn)樣品放入正常大氣條件下的試驗(yàn)箱內(nèi)，然后將試驗(yàn)箱內(nèi)的氣壓降至規(guī)定的氣壓值，在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。 本試驗(yàn)氣壓調(diào)節(jié)的平均速率不宜超過10 kPa/ min 。
高氣壓試驗(yàn)：
試驗(yàn)時(shí)，試驗(yàn)樣品處于非工作狀態(tài)。將經(jīng)過預(yù)處理的試驗(yàn)樣品放入正常大氣條件下的試驗(yàn)箱內(nèi)，然后將試驗(yàn)箱內(nèi)的氣壓以規(guī)定的平均速率升至規(guī)定的氣壓值，在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。